中圖儀器CEM3000系列納米形貌觀測掃描電鏡以“空間適配+性能強+易用高效“三大核心優勢，成為你的檢測增效利器。它操作系統簡便，使用過程簡單快捷。樣品一鍵裝入，自動導航和一鍵出圖能力（自動聚焦+自動消像散+自動亮度對比度）幫助用戶在短短幾十秒內就可獲取高清圖像，大大提升了使用效率。

NS系列納米臺階高度測量儀應用場景適應性強，其對被測樣品的反射率特性、材料種類及硬度等均無特殊要求，可測量沉積薄膜的臺階高度、抗蝕劑（軟膜材料）的臺階高度等。

VT6000輪廓尺寸檢測共聚焦顯微鏡用于對各種精密器件及材料表面進行微納米級測量。可測各類包括從光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物體表面，從納米到微米級別工件的粗糙度、平整度、微觀幾何輪廓、曲率等。

CEM3000系列100Pa倉內真空度掃描電鏡操作系統簡便，使用過程簡單快捷。具有高度的靈活性和豐富的功能，包括多種檢測器、附件，可以滿足廣泛的研究和工業需求，包括半導體芯片失效分析。

NS系列納米級薄膜臺階儀采用了線性可變差動電容傳感器LVDC，具備超微力調節的能力和亞埃級的分辨率，同時，其集成了超低噪聲信號采集、超精細運動控制、標定算法等核心技術，使得儀器具備超高的測量精度和測量重復性。

傳統的落地式SEM掃描電鏡儀器可能需要一個專門的房間或設施，而中圖儀器國產掃描電鏡公司的CEM3000系列掃描電鏡的框架尺寸還有所縮小，具有更高的易用性，要堅固耐用得多。