產品簡介

CEM3000材料內部結構觀測掃描電鏡具有出色的電子光學系統，優于4nm的空間分辨率成像，清晰呈現樣品表面微細結構。采用特殊設計的隔振措施，能夠減小環境中振動對電鏡的干擾，并且全系列電鏡具有強抗電磁干擾性能，消除場地因素對電鏡的影響。

中圖儀器CEM3000材料內部結構觀測掃描電鏡具有出色的電子光學系統，優于4nm的空間分辨率成像，清晰呈現樣品表面微細結構。在材料科學中解析材料表面形貌與內部結構；在工業制造領域中為精密加工質量控制提供支撐；在生命科學、納米技術、地球科學等多個領域，均成為科學研究與技術創新的核心工具。

一、產品性能

1.高抗振防磁性能

該系列臺式電鏡采用特殊設計的隔振措施，能夠減小環境中振動對電鏡的干擾，并且全系列電鏡具有強抗電磁干擾性能，消除場地因素對電鏡的影響。

其中CEM3000B更是采用本公司設計的高性能復合抗振系統來消除外界振動對電鏡的影響，即使是在高放大倍數下成像，用戶也不用擔心環境振動對電鏡產生的干擾。

2.選配低真空系統

根據用戶需求，可選配低真空系統。該系統讓用戶可以任意設定電鏡工作時的倉內真空度(倉內真空度低可達100Pa)，以滿足不同類型樣品的觀測需求。

3.高襯度成像系統

采集系統具有高信噪比，使用戶在快速掃描時也能獲取到充足的信號。即使針對微弱信號，CEM3000系列臺式電鏡搭載的處理算法亦可將信號從背底中進行高效剝離，確保成像質量。

4.豐富的定制功能

根據特定行業的需求，定制了自動化的顆粒度統計、孔隙率測量等選配功能。可根據用戶需求提供全自動軟件定制服務。

二、應用領域

1.工業生產與質量控制：

（1）PCB/PCBA缺陷分析： 快速定位焊點虛焊、橋連、裂紋，分析線路缺陷。

（2）金屬材料斷口分析： 清晰判斷斷裂性質，為產品改進提供關鍵依據。

（3）涂層/鍍層檢測： 直觀評估涂層均勻性、厚度及結合力。

2.科學研究與高校教育：

（1）材料研發： 觀察納米材料、復合材料、多孔材料的微觀形貌。

（2）生命科學： 直接觀察昆蟲、植物、細胞等非導電生物樣品。

（3）教學演示： 替代光學顯微鏡，讓學生接觸科研設備，激發科研興趣。

3.地質考古與法醫鑒定：

（1）礦物鑒定：觀察礦物的微觀形貌、解理、共生關系，輔助確定礦物類型。

（2）巖心分析：分析巖石的孔隙結構、裂隙發育情況，對石油、天然氣勘探非常重要。

（3）微體古生物學：觀察有孔蟲、花粉、孢子等微體化石，用于地質定年和古環境重建。

（4）考古文物分析：分析陶器、玉器、金屬文物的制作工藝、腐蝕產物和殘留物。

三、應用案例

注：產品參數與配置可能因技術升級調整，具體以實際溝通為準。

CEM3000材料內部結構觀測掃描電鏡一鍵式智能操作， 抽真空、圖像優化全自動完成，無需專業背景，普通技術員經短暫培訓即可獨立操作。點擊咨詢，免費獲取高倍檢測技術方案+現場樣品測試資格+機型定制建議，解鎖復雜環境下高倍檢測的高效新方式！